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超聲波掃描顯微鏡SAT/C-SAM(離(lí)線式)
應用範圍

IGBT模組分(fēn)層檢測

半導體(tǐ)芯片封裝分(fēn)層檢測

金剛石測厚及内部缺陷檢測

水冷散熱闆焊接缺陷檢測

設備優勢

具備A(點掃描)、B(縱向掃描)、C(橫向掃描)、多層掃描、批量掃描測量等系列掃描模式;

具備一(yī)鍵校準、報告自動生(shēng)成、探頭切換、強度檢測、缺陷檢測、厚度檢測、密度檢測、聲速檢測等功能;

具備定量分(fēn)析、缺陷尺寸标識功能,可自動計算缺陷占所測量面積百分(fēn)比;

具備圖像着色功能,可根據相位翻轉、厚度變化自動着色。

主要參數
整機尺寸
1100㎜×1020㎜×1550㎜
水槽尺寸
645×750x155㎜
有效掃描範圍
400×320×120㎜
最大(dà)掃描速度
1000㎜/s
圖像推薦分(fēn)辨率
1~4000μm
超聲發射、接收帶寬
5-500MHz
數據采集卡
采樣頻(pín)率 1GHz/s
上下(xià)水
水泵注水排水
上下(xià)料
手動、半自動、全自動(在線)
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