檢測設備
超聲波掃描顯微鏡SAT/C-SAM(離(lí)線式)
具備A(點掃描)、B(縱向掃描)、C(橫向掃描)、多層掃描、批量掃描測量等系列掃描模式;
具備一(yī)鍵校準、報告自動生(shēng)成、探頭切換、強度檢測、缺陷檢測、厚度檢測、密度檢測、聲速檢測等功能;
具備定量分(fēn)析、缺陷尺寸标識功能,可自動計算缺陷占所測量面積百分(fēn)比;
具備圖像着色功能,可根據相位翻轉、厚度變化自動着色。
具備A(點掃描)、B(縱向掃描)、C(橫向掃描)、多層掃描、批量掃描測量等系列掃描模式;
具備一(yī)鍵校準、報告自動生(shēng)成、探頭切換、強度檢測、缺陷檢測、厚度檢測、密度檢測、聲速檢測等功能;
具備定量分(fēn)析、缺陷尺寸标識功能,可自動計算缺陷占所測量面積百分(fēn)比;
具備圖像着色功能,可根據相位翻轉、厚度變化自動着色。